高速多通道Serdes測(cè)試儀

高速多通道誤碼儀/serdes測(cè)試儀：
高速多通道serdes測(cè)試儀，高速多通道誤碼測(cè)試儀(bert)，serdes測(cè)試儀，
支持各種不同的通道數(shù)（4通道，8通道，16通道，32通道）及速率（可達(dá)56gbaud for pam4）的靈活配置. 支持perlanejitterinjection，perlanenoiseinjection，perlaneskewcontrol，perlanevoltagecontrol，perlaneclockrecovery等功能。
high speed multi-channel error code tester/serdes tester:
high speed multi-channel serdes tester, high-speed multi-channel error code tester (bert), serdes tester,
supports flexible configuration of various channel numbers (4 channels, 8 channels, 16 channels, 32 channels) and speeds (up to 56gbaud for pam4) supports functions such as per lane jitter injection, per lane noise injection, per lane skew control, per lane voltage control, and per lane clock recovery.
​深圳市銳測(cè)電子科技（reetest）專(zhuān)注于提供針對(duì)各種芯片總線接口協(xié)議/serdes/器件/系統(tǒng)級(jí)產(chǎn)品從物理層至協(xié)議層的測(cè)試解決方案，覆蓋r&d測(cè)試驗(yàn)證，rdt可靠性測(cè)試，芯片量產(chǎn)測(cè)試, ae/fae等各個(gè)產(chǎn)品生命周期的測(cè)試。公司針對(duì)每一個(gè)產(chǎn)品線均有配備非常專(zhuān)業(yè)且富有經(jīng)驗(yàn)的技術(shù)支持工程師提供local的產(chǎn)品