半導體芯片三箱式冷熱沖擊試驗箱

半導體芯片三箱式冷熱沖擊試驗箱可獨立設定高溫、低溫、及冷熱沖擊三種不同條件之功能，并于執(zhí)行冷熱沖擊條件時，可選擇二槽式或二槽式之功能，具備高低溫試驗箱的功能。采用進口微電腦大型液晶lcd（320 x 240 dots）中英文顯示控制系統(tǒng)。 高程序記憶容量，可設定儲存 120 組程序，大循環(huán)設定 9999 cycles，每段時間大設定 999 hrs 59mins。
冷熱沖擊試驗箱技術指標：
型號: ts-80a ts-80b ts-80c ts-80d ts-80e ts-80f ts-80g
內(nèi)箱尺寸（cm） 50 x 40 x 40 60 x 40 x 45 60 x 50 x 50 70 x 60 x 60 80 x 80 x 80
溫度感傳器：t *4
控制器：oyo-8226
設定范圍：溫度: -100.00+200.00℃ / time : oh00m ~ 99h 59m / cycle : 0 cycle ~9999 cycle
分辨率temperature : 0.01℃
輸出型式：pid + ssr 控制模式
擴充特色：（rs-232 ）遠程監(jiān)控管理系統(tǒng) / ln2液態(tài)氮快速降溫控制裝置­
電源：ac 3ψ380v , 50hz
冷熱沖擊試驗箱控制系統(tǒng)：
預熱溫度：+ 60℃ ~ + 200℃ + 60℃ ~ + 200℃ + 60℃ ~ + 200℃
預冷溫度: - 10℃ ~ - 70℃ - 10℃ ~ - 70℃ - 10℃ ~ - 70℃
高溫沖擊: + 60℃ ~ + 150℃ + 60℃ ~ + 150℃ + 60℃ ~ + 150℃
低溫沖擊：-10℃ ~ - 65℃ -10℃ ~ - 65℃ -10℃ ~ - 65℃
溫度分布均勻度：±2.00℃ 以內(nèi)（under ±2.00℃）
仿真負載（kg）：2.5 2.5 5 5 5 5 10.0
冷熱沖擊試驗箱控制系統(tǒng)：
高溫沖擊3箱：rt℃~ +150℃ / 5 min rt℃~ +150℃ / 5 min rt℃~ +150℃ / 5 min
低溫沖擊3箱：rt℃~ -65℃ / 5 min rt℃~ -65℃ / 5 min rt℃~ -65℃ / 5 min
高溫沖擊2箱：-40℃~ +150℃ / 5 min -55℃~ +150℃ / 5 min -65℃~ +150℃ / 5 min
低溫沖擊2箱：+150℃~ --65℃ / 5 min +150℃~ -65℃ / 5 min +150℃~ -65℃ / 5 min
預熱時間：25min 30min 45min 40min 50min 40min 50min
預冷時間：60min 75min 80min 85min 85min 90min 100min
冷熱沖擊試驗箱結構：
預冷箱、預熱箱、 測試箱、固定類型的物體測試,可選擇2箱或3箱
氣門裝置：強制的空氣裝置氣門
內(nèi)箱材料：sus #304 不銹鋼
外箱材料：sus#304不銹鋼
測試柵盤：不銹鋼網(wǎng)架
冷凍系統(tǒng)：復疊式制冷
冷卻方式:水冷式
環(huán)境溫度:（ambient temperature） 10℃ ~ 35℃
半導體芯片三箱式冷熱沖擊試驗箱用途：
可用來測試材料結構或復合材料，在瞬間下經(jīng)及高溫及低溫的連續(xù)環(huán)境下所能承受的程度, 藉以在短時間內(nèi) 試驗其因熱脹冷縮所引起的化學變化或物理傷害.適用的對象包括金屬,塑料, 橡膠, 電子....等材料,可作為其產(chǎn)品改進的依據(jù)或參考。